样品前处理
岩石制片
- 测试项目
- 制片(薄片，光薄片，探针片，激光片，包裹体片，荧光片，染色片，铸体薄片等）
- 测试对象
- 各类岩石，泥沙，岩屑，土壤等
- 实验方法
- 以探针片为例： （1）整理样品、切样品，如果有特殊要求提前注明，切完每个样品写好编号防止错乱。（2）按顺序摆好切下的样品放烘箱里加热挥发水分，85°C左右。（3）煮胶，树脂胶和三乙醇胺5：1，搅拌均匀涂抹在加热后的石块上继续加热十小时左右，85°C。（4）取出煮胶后的石块去除表面多余残胶。（5）粗磨（黑碳化硅200目）、细磨打底（绿碳化硅1000目）、玻璃刻字、岩石样品粘玻璃。（6）取出粘好的片子用切割机修下多余的石头尽量修薄。（7）修好的片子拿去粗磨（黑碳化硅200目）、细磨（绿碳化硅1000目）、粗精磨（绿碳化硅1500目）、细精磨（绿碳化硅4500目）。所有抛光都经过粗抛和精抛两个步骤，合计抛光时间20~30分钟，粗抛用料为重铬酸铵或氧化铝抛光液，精抛用金刚石悬浮液。
- 制作周期
- 7-12个工作日（具体以样品为准）
- 完成标准
- 以满足测试要求为前提，可提供定制化服务
- 备注说明
- 薄片：无需抛光需盖载玻片厚度0.03mm（30μm），适合于光学显微镜观察（关注金属矿物请勿做）； 光薄片：需抛光厚度0.03mm。兼顾扫描电镜、电子探针测试和光学显微镜下观察。 探针片：需抛光厚度0.04-0.05mm（40~50μm），适合于扫描电镜、电子探针测试； 包裹体片：需双面抛光厚度0.2mm（200μm），如有特殊厚度需求提前注明； 光片：规格约2.4×3.2×1cm，需抛光； 光面：规格按需求，需抛光。